エンベデッドシステム、半導体開発のソリューションご提供│プリバテック
LSIテストソリューション
サービス
長年培ってきたテスト技術でLSIのテスト全般の作業を受託します。
業界最大規模のテストエンジニアが在籍しており、テストに関するお客様のあらゆるニーズにお応えします。
テストプログラム開発
テスト仕様設計、テストプログラム開発を行っています。 各種LSIテスタに対応したテストプログラム開発が可能です。
国内外の主要テスターをはじめ多くのテスターに精通しています。さまざまなLSIテスタに対応したテストプログラムやテストパタン設計を短納期で開発しています。
また、テストタイムの最適化やパラレル化、マルチサイト測定等、量産時のテストコスト削減を意識したプログラム開発をご提案しています。
プログラム開発だけでなく、プローブカードやテストボード等の治工具作成、量産立ち上げも可能です。
自社保有のクリーンルーム/テスタを使用しての小規模量産テストも可能です。テスト時間短縮や低歩留テストの原因解析・改善も対応いたします。
テストプログラム/パターン変換
多様なLSIテスタの機種変更に伴うプログラム/パターンを変換するサービスです。
・テスタ新機種導入
・生産マップの見直し
・海外テストハウスへのアウトソーシング
・変換前後のコリレーション
・量産立ち上げ
・様々なお客様のニーズにお応えします。
■具体例
LSIテスタメーカ
変換元テスタ
変換先テスタ
ADVANTEST
T33xx
T66/65xx
T2000
T7721
T7321
V93000
T66/65xx/TS6000H/AL9737/J750(EX)/Diamond(D10)/T2000/U-Flex/V93000
TS6000H/J750(EX)/Diamond(D10)/T2000/U-Flex/V93000
U-Flex/V93000
T65xx/T2000/U-Flex/V93000
T65xx/T2000/U-Flex/V93000
T2000/U-Flex
YOKOGAWA
TS6000H
TS1000
AL9737
DIC90xx
DIC80xx
T66/65xx/J750(EX)/Diamond(D10)/T2000/U-Flex/V93000
TS6000/TS6800
T66/65xx/TS6000H/J750(EX)/Diamond(D10)/T2000/U-Flex/V93000
TS6000H/J750(EX)/T65xx
TS6000H/J750(EX)/T65xx
TERADYNE
J97X
J750(EX)
U-Flex
T2000/U-Flex/V93000
T66/65xx/TS6000H/Diamond(D10)/T2000/U-Flex/V93000
T2000/V93000
LTX-Credence
D10
T66/65xx/J750(EX)/T2000
上記以外の機種の場合でもお気軽にご相談下さい。
テスト、評価、選別
LSIの特性評価、実機評価、量産選別を受託で対応いたします。
当社保有のクリーンルーム/テスタを使用しての小規模量産テストも可能です。
ウェハテスト、ファイナルテストの両方が可能です。