LSIテストソリューション

長年培ってきたテスト技術でLSIのテスト全般の作業を受託します。

業界最大規模のテストエンジニアが在籍しており、テストに関するお客様のあらゆるニーズにお応えします。

テストプログラム開発

テスト仕様設計、テストプログラム開発を行っています。 各種LSIテスタに対応したテストプログラム開発が可能です。

国内外の主要テスターをはじめ多くのテスターに精通しています。さまざまなLSIテスタに対応したテストプログラムやテストパタン設計を短納期で開発しています。

また、テストタイムの最適化やパラレル化、マルチサイト測定等、量産時のテストコスト削減を意識したプログラム開発をご提案しています。

プログラム開発だけでなく、プローブカードやテストボード等の治工具作成、量産立ち上げも可能です。

自社保有のクリーンルーム/テスタを使用しての小規模量産テストも可能です。テスト時間短縮や低歩留テストの原因解析・改善も対応いたします。

テストプログラム/パターン変換

多様なLSIテスタの機種変更に伴うプログラム/パターンを変換するサービスです。

・テスタ新機種導入

・生産マップの見直し

・海外テストハウスへのアウトソーシング

・変換前後のコリレーション

・量産立ち上げ

・様々なお客様のニーズにお応えします。

■具体例

LSIテスタメーカ

変換元テスタ

変換先テスタ

ADVANTEST

T33xx

T66/65xx

T2000

T7721

T7321

V93000

T66/65xx/TS6000H/AL9737/J750(EX)/Diamond(D10)/T2000/U-Flex/V93000

TS6000H/J750(EX)/Diamond(D10)/T2000/U-Flex/V93000

U-Flex/V93000

T65xx/T2000/U-Flex/V93000

T65xx/T2000/U-Flex/V93000

T2000/U-Flex

YOKOGAWA

TS6000H

TS1000

AL9737

DIC90xx

DIC80xx

T66/65xx/J750(EX)/Diamond(D10)/T2000/U-Flex/V93000

TS6000/TS6800

T66/65xx/TS6000H/J750(EX)/Diamond(D10)/T2000/U-Flex/V93000

TS6000H/J750(EX)/T65xx

TS6000H/J750(EX)/T65xx

TERADYNE

J97X

J750(EX)

U-Flex

T2000/U-Flex/V93000

T66/65xx/TS6000H/Diamond(D10)/T2000/U-Flex/V93000

T2000/V93000

LTX-Credence

D10

T66/65xx/J750(EX)/T2000

上記以外の機種の場合でもお気軽にご相談下さい。

テスト、評価、選別

LSIの特性評価、実機評価、量産選別を受託で対応いたします。

当社保有のクリーンルーム/テスタを使用しての小規模量産テストも可能です。

ウェハテスト、ファイナルテストの両方が可能です。

車載・モバイル・メディカル・映像機器の受託開発/ソリューションご提案│プリバテック

〒140-0001 東京都品川区北品川2丁目32番3号 六行会総合ビル

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LSIテスタメーカ

ADVANTEST

変換元テスタ

T33xx

変換先テスタ

T66/65xx/TS6000H/AL9737/J750(EX)/Diamond(D10)/T2000/U-Flex/V93000

LSIテスタメーカ

ADVANTEST

変換元テスタ

T66/65xx

変換先テスタ

TS6000H/J750(EX)/Diamond(D10)/T2000/U-Flex/V93000

LSIテスタメーカ

ADVANTEST

変換元テスタ

T2000

変換先テスタ

U-Flex/V93000

LSIテスタメーカ

ADVANTEST

変換元テスタ

T7721

変換先テスタ

T65xx/T2000/U-Flex/V93000

LSIテスタメーカ

ADVANTEST

変換元テスタ

T7321

変換先テスタ

T65xx/T2000/U-Flex/V93000

LSIテスタメーカ

ADVANTEST

変換元テスタ

V93000

変換先テスタ

T2000/U-Flex

LSIテスタメーカ

YOKOGAWA

変換元テスタ

TS6000H

変換先テスタ

T66/65xx/J750(EX)/Diamond(D10)/T2000/U-Flex/V93000

LSIテスタメーカ

YOKOGAWA

変換元テスタ

TS1000

変換先テスタ

TS6000/TS6800

LSIテスタメーカ

YOKOGAWA

変換元テスタ

AL9737

変換先テスタ

T66/65xx/TS6000H/J750(EX)/Diamond(D10)/T2000/U-Flex/V93000

LSIテスタメーカ

YOKOGAWA

変換元テスタ

DIC90xx

変換先テスタ

TS6000H/J750(EX)/T65xx

LSIテスタメーカ

YOKOGAWA

変換元テスタ

DIC80xx

変換先テスタ

TS6000H/J750(EX)/T65xx

LSIテスタメーカ

TERADYNE

変換元テスタ

J97X

変換先テスタ

T2000/U-Flex/V93000

LSIテスタメーカ

TERADYNE

変換元テスタ

J750(EX)

変換先テスタ

T66/65xx/TS6000H/Diamond(D10)/T2000/U-Flex/V93000

LSIテスタメーカ

TERADYNE

変換元テスタ

U-Flex

変換先テスタ

T2000/V93000

LSIテスタメーカ

LTX-Credence

変換元テスタ

D10

変換先テスタ

T66/65xx/J750(EX)/T2000