システム製品

評価、解析用システムを中心とした製品販売をしています。高精度の測定を低価格で実現したシステム製品です。

IoTセンサープラットフォーム 高分解能ADCモジュール MT-003SP

アナログ電圧値を24bit ADCで高分解能で測定し、無線/有線でのデータ通信が可能な測定モジュールです。アナログ出力センサーを接続すれば簡単にIoT、M2M環境を構築できます。

付属のGUIソフトウェアにより、測定結果をリアルタイムでグラフ表示、保存、Limit管理、各種制御が可能です。高精度測定や連続測定に最適です。

■主なスペック

システム電源

入力範囲 (外部配線入力)

2.7V~5.5V

DC-INPUT

USB (MiniB)

5V (USB2.0 5V 500mA)

最大消費電力

通信仕様により異なります

通信

有線通信 USB2.0 (フルスピード12Mbps)

無線通信 WiFi 【技適取得済みモジュールを搭載】

(今後 BLE Lora対応を予定)

測定用I/F

高分解能24BitADC 1ch (SMA 差動2端子)

外部入力電源 電源端子、GND端子

固定出力電圧 3.3V (数十mA)、GND端子

汎用Port (SPI通信他) 6端子(3.3VCMOS)

動作温度

0℃~50℃ [湿度50%]

サイズ

43mm×43mm×43mm

アナログ入力電圧 (ADC)

入力電圧

分解能

データレート

ダイナミックレンジ

差動入力 4Vpp (ATT併用で大電圧に対応)

24Bit

125.0Ksps

評価中 (設計仕様100dB)

個別温度制御システム

半導体製品の温度試験で従来用いられていたサーモストリーマやホットプレートを代替する装置です。ヒータをデバイスに直接あて加熱します。

■特徴

・素早い加熱でテスト時間短縮・小型ヒータで対象物だけを直接加熱。ピンポイント加熱でコスト削減

・ヒータ部はお客様の状況に合わせカスタム対応。市販テスト用ソケットへのヒータ/センサ組込み実績多数あり

・カスタム仕様に柔軟に対応致します

CMOSイメージセンサ (CIS) テストシステム

ソフトウェア、ファームウェアを受託開発します。ドライバからアプリケーションまで幅広く対応しています。なかでも画像処理技術に強みを持っています。

画像メモリ

15GB/DUT

取込ビット幅

16bit

取込速度

1.2GHz

Color指定

64色

Platform

VBA/C#/C++/C/Java/Labview

レンズモジュール検査システム

CMOSイメージセンサー(CIS)を搭載したレンズモジュール、カメラモジュールの検査装置。点欠陥、シミ、キズを定量的に自動で検査・抽出します。レンズモジュールの評価・解析や出荷/受入検査にご使用いただけます。またお客様の評価環境にも実装可能なシミ、キズの検出アルゴリズムをソフトウェアライブラリーとしてご提供致します。

マシンビジョン (画像検査システム)

塗装不良検査、金属、樹脂の仕上げ面不良検査、計器の表示数字読み取り、バーコード 印字不良検査のためのシステム。カスタム対応でお客様のご要望を実現します。

今まで目視検査で行っていた不良検査を自動化し、ローコストで安定した品質管理が可能になります。

■特徴

・検査項目に応じて最適な画像検査システムを提供します。

 塗装のシミ、ムラ検査(自動車部品、プラスチック部品、装飾品、液晶ディスプレイ等)

 表面キズ、異物検査(デジカメケース、プラスチック部品等)

 計器(メーター)の数字読み取り(ガスメーター、工場内の機器等)

 バーコードの印刷不良判定(食品のバーコード等)

・システム構成ベースシステム:画像検査ソフトウェア+カメラ+照明

 ※その他必要に応じてカスタマイズ致します。

・価格ベースシステム(画像検査ソフトウェア+カメラ+照明):350万円〜

 画像検査ソフトウェアのみ:50万円〜

※お客様のご要望、ご予算に合わせて提案致します。

・その他にも色合い検査、形状検査(パターンマッチング)、ドットずれ、ドット飛び検査も実現可能です。

・実用例(自動車部品の塗装検査、製造年月日検査、ディスプレイ検査、etc)

・サンプル(画像)をご提供頂ければ試行致します。

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